测试座

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测试座

K&S设计制造的高效能测试座和连接器，领先业界。我们开发出的测试插槽，可适用 于最小的晶粒比例构装，接点小于100个，也可适用于最大型的微处理器，接点超过 1000个，控点间距更可达 0.4 mm。

K&S 采用综合的设计技巧，包括弹簧式探针接脚、浮动底座、构装特定插入，以轻轻 导引构装接点定位，同时调整测试座接点和其他机械式配置装置。如此可防止手动 或自动启动时造成IC构装毁损，确实平均分散接触力。

我们设计多种弹簧式探针接点，以符合不同的效能参数。由于我们的接点彼此独立设 置，传输高速讯号也不会降低边缘率（升降时间）的低电感系数接点，即可与高电 感系数接点并排配置。此外，个别独立的接点也可减少串音(crosstalk)。

此款测试座的设计，从 3D电子及机械模型设计等电脑辅助设计，到电脑辅助制造， 制程高度自动化。效能检验测试，则包括单纯的点对点连续性测试，到测试座阻抗、 电容量、电感值、频宽及串音的完整特性检验。